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028-87954548MiniTest 700系列提供多種校準(zhǔn)方法,以滿足各種應(yīng)用,程序和工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的個(gè)性化要求。 如果正在創(chuàng)建批次,則可以為此批次選擇合適的校準(zhǔn)方法。 您可以在創(chuàng)建批次后或在以后的測(cè)量模式下立即執(zhí)行校準(zhǔn)。 要在測(cè)量模式下調(diào)用校準(zhǔn)功能,請(qǐng)按功能鍵CAL。 只要在當(dāng)前活動(dòng)的批次中沒有存儲(chǔ)讀數(shù),就可以更改校準(zhǔn)方法。
為了確保*校準(zhǔn),應(yīng)遵循以下幾點(diǎn):
1、正確的校準(zhǔn)對(duì)于測(cè)量至關(guān)重要。對(duì)于校準(zhǔn),應(yīng)使用類似于待測(cè)物體的樣品,即校準(zhǔn)樣品和待測(cè)量對(duì)象應(yīng)具有相同的形狀和幾何形狀。通常,您可以說,校準(zhǔn)樣品和后續(xù)測(cè)量對(duì)象的相似度越高,讀數(shù)越準(zhǔn)確,因此讀數(shù)的準(zhǔn)確度將越高。
2、確保校準(zhǔn)樣品和后續(xù)被測(cè)物體具有相同的特性,如: - 與表面相同的基體材料相同的曲率半徑(如導(dǎo)磁率,導(dǎo)電性;在理想情況下,應(yīng)由相同的材料制成)材料) - 相同的基板厚度 - 測(cè)量面積相同的尺寸。
3、開始校準(zhǔn)之前,請(qǐng)確保校準(zhǔn)點(diǎn),傳感器和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)清潔。如有必要,請(qǐng)清除任何積聚物,如油脂,金屬屑等。任何雜質(zhì)都可能會(huì)影響校準(zhǔn),導(dǎo)致校準(zhǔn)錯(cuò)誤。
4、確保校準(zhǔn)位置和測(cè)量位置始終相同,特別適用于小零件的測(cè)量和邊緣和角落的測(cè)量。
5、在校準(zhǔn)過程中遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場(chǎng)。
6、為了zui大的校準(zhǔn)精度和以后的測(cè)量,請(qǐng)選擇與后續(xù)測(cè)量樣品相同厚度范圍內(nèi)的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)厚度。
7、根據(jù)磁感應(yīng)法(用F1.5,F(xiàn)N1.5,F(xiàn)5,F(xiàn)N5或F15傳感器)測(cè)量鋼鐵或黑色金屬基底上厚厚的有色金屬涂層,必須進(jìn)行多點(diǎn)校準(zhǔn)。 厚度標(biāo)準(zhǔn)必須與待測(cè)物體的金屬相同。
8、如果使用校準(zhǔn)箔,請(qǐng)確保它們位于基材上的平面位置。 必須避免箔片下面的任何氣隙,否則會(huì)導(dǎo)致讀數(shù)不穩(wěn)定。 如果箔彎曲,請(qǐng)確保將其放置在基板上,如下所示。
精密厚度標(biāo)準(zhǔn)必須小心處理。 任何厚度標(biāo)準(zhǔn)的磨損都將反映為不規(guī)則的校準(zhǔn)值。 不要折疊校準(zhǔn)箔。 任何彎曲將導(dǎo)致箔下面的氣隙,導(dǎo)致讀數(shù)不穩(wěn)定。 保持厚度標(biāo)準(zhǔn)清潔,不含油脂,油,灰塵或其他積聚物。 箔片上的積聚將被認(rèn)為是厚度,并且將導(dǎo)致與積聚厚度相同值的測(cè)量誤差。 給你一個(gè)粗略的想法:從指紋的積累將足以增加一些微米的額外的厚度。
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