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技術(shù)文章/ ARTICLE

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  • 2024

    6-17
    EPK霍爾效應(yīng)瓶壁測(cè)厚儀的測(cè)試原理及方法概述 EPK霍爾效應(yīng)瓶壁測(cè)厚儀是一款利用的物理現(xiàn)象霍爾效應(yīng)轉(zhuǎn)化為實(shí)際應(yīng)用的新型儀器設(shè)備。EPK霍爾效應(yīng)瓶壁測(cè)厚儀測(cè)試的原理:是在測(cè)試過程中,儀器先采集并感知到電勢(shì)差的變化,在其它因素不變的情況下,電勢(shì)差的變化與磁場(chǎng)的作用強(qiáng)度成正比關(guān)系,而磁場(chǎng)強(qiáng)度與被測(cè)厚度成反比關(guān)系,這樣電勢(shì)差就與被測(cè)厚度就成反比關(guān)系,用戶可以依據(jù)在該電磁環(huán)境達(dá)到平衡態(tài)時(shí),電荷所受磁場(chǎng)的洛倫茲力與偏移后聚集電荷產(chǎn)生電場(chǎng)的電場(chǎng)力相等這一結(jié)論進(jìn)行推理得出以上關(guān)系。EPK霍爾效應(yīng)瓶壁測(cè)厚儀的測(cè)量方法:在被測(cè)的玻璃瓶罐內(nèi)放...
  • 2024

    6-17
    德國(guó)尼克斯QNix4500測(cè)厚儀操作說明 QNix4500測(cè)厚儀操作說明儀器使用:1.開機(jī):裝入電池后按紅色按鍵或?qū)x器探頭垂直接觸被測(cè)物體表面并壓實(shí),儀器將自動(dòng)開機(jī)。(使用時(shí)務(wù)必要使探頭垂直接觸被測(cè)物表面并壓實(shí),禁止接觸狀態(tài)下橫向滑動(dòng)探頭,以免劃傷探頭前端紅寶石。每次測(cè)量后將儀器拿起,離開被測(cè)物10cm以上,再進(jìn)行下次測(cè)量。)2.設(shè)置:開機(jī)后按紅色按鍵進(jìn)入菜單,QNix4500為4個(gè)選項(xiàng),QNix4200為2個(gè)選項(xiàng),“Fe”為磁性金屬基體模式,“NFe”為非磁性金屬基體模式(僅QNix4500),“Fe/NFe”為...
  • 2024

    6-17
    EPK涂層測(cè)厚儀MiniTest 700校準(zhǔn)注意事項(xiàng) MiniTest700系列提供多種校準(zhǔn)方法,以滿足各種應(yīng)用,程序和工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的個(gè)性化要求。如果正在創(chuàng)建批次,則可以為此批次選擇合適的校準(zhǔn)方法。您可以在創(chuàng)建批次后或在以后的測(cè)量模式下立即執(zhí)行校準(zhǔn)。要在測(cè)量模式下調(diào)用校準(zhǔn)功能,請(qǐng)按功能鍵CAL。只要在當(dāng)前活動(dòng)的批次中沒有存儲(chǔ)讀數(shù),就可以更改校準(zhǔn)方法。為了確保*校準(zhǔn),應(yīng)遵循以下幾點(diǎn):1、正確的校準(zhǔn)對(duì)于測(cè)量至關(guān)重要。對(duì)于校準(zhǔn),應(yīng)使用類似于待測(cè)物體的樣品,即校準(zhǔn)樣品和待測(cè)量對(duì)象應(yīng)具有相同的形狀和幾何形狀。通常,您可以說,校準(zhǔn)樣品和后續(xù)測(cè)量...
  • 2024

    6-15
    涂層測(cè)厚儀使用注意事項(xiàng) 涂層測(cè)厚儀使用指南:涂層測(cè)厚儀,是一種專業(yè)無損用于各種涂層厚度檢測(cè)的儀器,專門用于各種磁性以及非磁性金屬表面油漆等各種絕緣層厚度的檢測(cè),有些用戶用了一段時(shí)間后,會(huì)發(fā)現(xiàn)測(cè)厚儀測(cè)試精度變差導(dǎo)致測(cè)量不準(zhǔn)確的情況發(fā)生,很多用戶對(duì)儀器使用時(shí)根本不知道愛護(hù),隨處亂丟,使用完后也不裝在保護(hù)箱內(nèi),這樣時(shí)間久了,儀器損傷越來越嚴(yán)重.下面我就來說說涂層測(cè)厚儀使用時(shí)需要多注意的幾點(diǎn)情況,讓您知道要如何有效的呵護(hù)您的涂層測(cè)厚儀.1.涂層測(cè)厚儀是一種精密檢測(cè)儀器,我們?cè)跍y(cè)試時(shí),都是通過探頭與工件表面接...
  • 2024

    6-15
    EPK超聲波測(cè)厚儀的主要測(cè)量方法 EPK超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭,通過測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。EPK超聲波測(cè)厚儀的主要功能體現(xiàn)在:超聲波測(cè)厚儀適合測(cè)量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度;可配備多種不同頻率、不同晶片尺寸的探頭使用;具有探頭零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能,可對(duì)系統(tǒng)誤...
  • 2024

    6-15
    你要知道硬度計(jì)誤差原因 1、硬度計(jì)本身會(huì)產(chǎn)生兩種誤差:是其零件的變形、移動(dòng)造成的誤差;二是硬度參數(shù)超出規(guī)定標(biāo)準(zhǔn)所造成的誤差。對(duì)二種誤差,在測(cè)量前需用標(biāo)準(zhǔn)塊對(duì)硬度計(jì)進(jìn)行校準(zhǔn)。對(duì)洛氏硬度計(jì)校正結(jié)果,差值在±1之內(nèi)合格。差值在±2之內(nèi)的穩(wěn)定數(shù)值,可以給出修正值。差值在±2范圍之外時(shí)則需對(duì)硬度計(jì)進(jìn)行校正維修或換其他硬度測(cè)試法測(cè)定。2、在*換壓頭或砧座時(shí),注意接觸部位要擦干凈。換后,要用定硬度的鋼樣測(cè)試幾次,直到連續(xù)兩次所得硬度值相同為止。目的是使壓頭或砧座與試驗(yàn)機(jī)接...
  • 2024

    6-14
    三豐便攜式粗糙度儀:精密測(cè)量的便捷伙伴 三豐(Mitutoyo)作為精密測(cè)量工具的品牌,其便攜式粗糙度儀在工業(yè)領(lǐng)域中被廣泛用于表面粗糙度的測(cè)量。這種儀器以其便攜性、高精度和操作簡(jiǎn)便性,在多個(gè)行業(yè)中發(fā)揮著重要作用。本文將詳細(xì)介紹三豐便攜式粗糙度儀的應(yīng)用領(lǐng)域、使用方法和維護(hù)要點(diǎn)。應(yīng)用領(lǐng)域:機(jī)械制造業(yè):用于機(jī)械零件加工后表面粗糙度的檢測(cè)。汽車工業(yè):檢測(cè)汽車零部件的表面質(zhì)量。航空航天:在航空航天領(lǐng)域,用于檢測(cè)精密部件的表面處理。電子行業(yè):用于電子組件表面粗糙度的測(cè)量。醫(yī)療器械:確保醫(yī)療器械表面達(dá)到所需的粗糙度標(biāo)準(zhǔn)。質(zhì)量控制...
  • 2024

    6-2
    超聲波測(cè)厚儀一般測(cè)試方法介紹 超聲波測(cè)厚儀一般測(cè)試方法介紹超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),脈沖被反射回探頭通過測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度。一般情況下,主要有以下幾種常用測(cè)試方法,客戶可根據(jù)自己的需要選擇合適的測(cè)試方法:1.一般測(cè)量a.在一點(diǎn)處用探頭進(jìn)行兩次測(cè)厚,在兩次測(cè)量中探頭的分割面要互為90°,取較小值為被測(cè)工件厚度值。b.多點(diǎn)測(cè)量法:當(dāng)測(cè)量值不穩(wěn)定時(shí),以一個(gè)測(cè)定點(diǎn)為中心,在直徑約為30mm的圓內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)...
  • 2024

    6-2
    市場(chǎng)上常用的涂層測(cè)厚儀選擇方式 大家都知道,測(cè)量涂層厚度的時(shí)候要選擇涂層測(cè)厚儀,但是可能大家不知道,目前市面上有好多種不同功能的涂層測(cè)厚儀,哪一款適合自己測(cè)試使用,為了避免用戶買回去出現(xiàn)無法測(cè)試的情況,下面我們就來說說都有哪5種涂層測(cè)厚儀?市場(chǎng)上常用的涂層測(cè)厚儀選擇方式介紹:涂鍍層測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類型:1.磁性測(cè)厚法:適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量.導(dǎo)磁材料一般為:鋼、鐵、銀、鎳.常用型號(hào):德國(guó)菲希爾FischerDualScopeMP0,DeltascopeFMP10,Deltascop...
  • 2024

    6-2
    德國(guó)EPK MiniTest 725/735/745干膜測(cè)厚儀探頭選擇 MiniTest725/735/745干膜測(cè)厚儀是德國(guó)EPK推出的一款用于精密檢測(cè)場(chǎng)合使用的涂層測(cè)厚儀,用戶可以根據(jù)自己的測(cè)量需求選擇合適的探頭,比如直探頭,微型探頭、45度探頭、90度直角探頭以及針對(duì)一些惡羅環(huán)境使用的特殊探頭,滿足用戶不同的檢測(cè)需求。1.針對(duì)一些小工件、薄涂層以及管型材料、條形材料凹槽或者內(nèi)部可以選擇微型探頭,如F0.5M-0、F0.5M-45°、F0.5M-90°三款微型探頭,測(cè)量量程為0-0.5mm.2.直探頭,F(xiàn)1.5,F2,F2.6,F5,N07,...
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